Prüflabor
Rasterelektronenmikroskopie
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist ein Verfahren zur Abbildung der Oberflächen von Feststoffen. Durch sie können beispielsweise Bruchflächen von Werkstoffen genau untersucht werden.
Im Vergleich zu herkömmlichen Mikroskopen bietet die Rasterelektronenmikroskopie einen erhöhten Vergrößerungsbereich, eine größere Tiefenschärfe sowie eine maximale Auflösung.
Das Prinzip der Rasterelektronenmikroskopie basiert auf der Abrasterung der Objektoberfläche durch einen fein gebündelten Elektronenstrahl. Trifft dieser Elektronenstrahl auf das Objekt, sind unterschiedliche Wechselwirkungen möglich, deren Detektion Informationen über die Beschaffenheit des Untersuchungsgegenstandes geben.
